Equipements
Spécifiques

Préparation
et Synthèse
- Ensemble de boîtes à gants à atmosphère controlée
(eau, oxygène) sous argon et sous azote
- Fours divers pour réactions à l'état solide : rayonnant
sous flux gazeux (gaz inerte, O2, RH4...),
haute fréquence, haute température (1700°C)
- Ensembles de synthèse hydrothermale (2Kbars), moyenne (400°C)
et haute (800°C) température
- Ensembles de synthèse solvothermale par chauffage
classique (autoclaves PAAR) et chauffage micro-onde (CEM 2100)
- Ensemble de synthèse sous pression d'oxygène (1000°C, 1Kbar)
- Fluoration par HF gazeux
- Deux ensembles de dépôt de fluorures sous vide avec chauffage
par induction
- Salle à taux de poussière controlé (classe <100000)
- Système de densification de poudres : mortiers, accès à
un broyeur planétaire, pastilleuses (diamètre 5 mm, 10 mm, 13
mm), presses (uniaxiale, isostatique)

Analyse
- Ensembles d'analyse thermique DSC, ATG et ATD (Dupont, Setaram,
Perkin-Elmer)
- Un dilatomètre SETARAM TMA Setsys Evolution 16 de construction verticale
avec un équipage en alumine, fonctionnant dans une gamme de température 20-1600°C
sous atmosphères variées et contrôlées (système de mélange de gaz).
- Cellule de mesure de densité (pycnomètre à hélium)

Mesures
physiques
- Cellule de mesure de conductivité électronique à
quatre pointes (10-300K)
- Cellule de mesure de conductivité ionique (10-1000K)
- Ensemble de mesures électrochimiques Solartron (analyseur
de réponse en fréquence, interface diélectrique, Potentiostat)
- Magnétomètre Foner (4-300K)
- Plate-forme de mesures de propriétés physiques sous champ
magnétique (Quantum Design PPMS) : résistivité, aimantation,
chaleur spécifique (0-7T, 2-300K)

Diffraction
des rayons X
- Un diffractomètre à rayons X automatiques q/2q
pour poudre (Siemens D500), pilotés par le système Diffrac/AT Siemens
- Un diffractomètre à rayons X automatique haute
résolution q/2q pour
poudre (Bruker D8)
- Un diffractomètre à rayons X automatiqueq/q
pour poudre (Panalytical X'pert Pro), équipé d'une acquisition rapide X'Cellerator,
chambre en température Anton Paar HTK12 de 20°C à 1200°C (sous atmosphère
contrôlée), d'un passeur d'échantillons (15 places), anti-cathodes
Cu et Co.
- Un ensemble de chambres photographiques (Buerger, Weissenberg) pour monocristal
- Un diffractomètre à rayons X automatique 4 cercles pour monocristal
(Stoe/Siemens AED2)
- Methodes d'affinement et de détermination de structures
- Bases de données JCPDS/PDF2 et ICDD sur CD-Rom, ICSD, Cambridge


Microscopie
- Microscopie optique : binoculaires (avec capture d'image)
- Accès à un microscope électronique à balayage (capture d'image
en ligne, microanalyse X)
- Microscope électronique en transmission
JEOL 2010 (capture d'image en ligne, microanalyse X,
porte-objets double-tilt, double-tilt refroidi, tilt-rotation )
- Système de numérisation, analyse et traitement
d'image sur PC
- Programme de simulation d'images MET à haute résolution
(ems de P. Stadelman sur Silicon Graphics)

Caractérisation
du Guidage Optique
- M-lines (caractérisation à 633nm, 1.3µm,
1.5µm)
- Mesures de pertes par diffusion à 633nm, 1.3µm, 1.5µm
- Champ proche